熒光硫分析儀都有其特定的能級結構,其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發了,其他的外層電子便會填補這一空位,也就是所謂躍遷,同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的。熒光硫分析儀以微電流放大、計算機數據處理,即可轉換為與光強度成正比的電信號。此化學發光的強度與NO成正比,而NO的生成量又與樣品中的總氮含量成正比,故可以通過測定化學發光的強度來測定樣品中的的總含量。
紫外熒光硫分析儀采用紫外熒光法測定總硫含量,提高了抗雜質干擾的能力,避免了電量法對滴定池的繁鎖操作和因此帶來的不穩定因素,使得儀器的靈敏度大為提高。系統關鍵部件采用進口器件,使得整機性能有了可靠的保證。
紫外熒光硫分析儀廣泛應用于檢測液體、固體或氣體樣品中的硫含量。與國內外同類儀器相比,具有性能穩定可靠,分析精度高,重復性好等特點。高精度的數采卡和計算機技術的應用為數據的采集、控制、處理提供了可靠的保證。